天瑞Skyray EDX6000C能量色散X熒光光譜儀 天瑞儀器在累計數萬臺以上的能量色散型X射線熒光分析裝置的業績基礎上,十年磨一劍,開發出將多種測試需求融于一體的新一代X熒光分析裝置-EDX6000C。該儀器配置大面積石墨烯超薄窗口的電制冷半導體SDD檢測器、超近低損耗測試光路、高精度微焦斑X射線激發光源、PLC(單杯位、9杯位、12杯位、20杯位)控制多樣品腔系統、真空和氦氣二合一系統、樣
天瑞Skyray EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦精準分析。
天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀 EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。
天瑞Skyray EDX-V X射線熒光鍍層測厚儀 EDX-V是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管X射線光學系統,對于微米級尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析,能進行高效、準確的測量。
天瑞Skyray EDX600ProX熒光鍍層測厚儀 EDX600Pro是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，專門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測,幫助企業準確核算成本及質量管控。
